Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем
In order to develop the methods of neutron and X-ray reflectometries for the study of surface layers of liquid systems, a method of increasing the sensitivity of the reflectometric experiment to the appearance and evolution of near-surface layers is proposed. Therefore, Ni/Ti multilayered heterostru...
Збережено в:
| Видавець: | Publishing house "Academperiodika" |
|---|---|
| Дата: | 2023 |
| Автори: | , , |
| Формат: | Стаття |
| Мова: | English Ukrainian |
| Опубліковано: |
Publishing house "Academperiodika"
2023
|
| Теми: | |
| Онлайн доступ: | https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023082 |
| Теги: |
Додати тег
Немає тегів, Будьте першим, хто поставить тег для цього запису!
|
Організація
Ukrainian Journal of Physics| id |
ujp2-article-2023082 |
|---|---|
| record_format |
ojs |
| spelling |
ujp2-article-20230822023-06-14T19:08:59Z Development of Neutron Reflectometry of Surface Layers of Liquid Systems Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем Kosiachkin, Y. Bulavin, L.A. Kopcansky, P. тонкi плiвки багатошаровi структури нейтронна рефлектометрiя рентґенiвська рефлектометрiя електрохiмiчнi iнтерфейси оптимiзацiя сигналу thin films multilayered structures neutron reflectometry X-ray reflectometry electrochemical interfaces signal optimization In order to develop the methods of neutron and X-ray reflectometries for the study of surface layers of liquid systems, a method of increasing the sensitivity of the reflectometric experiment to the appearance and evolution of near-surface layers is proposed. Therefore, Ni/Ti multilayered heterostructures are tested regarding for the practical applicability of the quasi-homogeneous approach with varying effective scattering length density of thin (thickness <100 nm) metal films in X-ray reflectometry experiments on the example of electrochemical interfaces. The structures with extremely low thickness of the Ni/Ti bilayer with different thickness ratios of Ni- and Ti-sublayers are synthesized by magnetron sputtering. Specular reflectivities of X-rays from the heterostructures are analyzed to conclude about the limits of the quasi-homogeneous approximation. З метою розвитку методiв нейтронної та рентґенiвської рефлектометрiї для дослiдження поверхневих шарiв рiдинних систем запропоновано метод збiльшення чутливостi рефлектометричного експерименту до появи та еволюцiї приповерхневих шарiв. У зв’язку з цим, проведено тестування багатошарових гетероструктур Ni/Ti щодо практичного застосування квазиоднорiдного пiдходу зi змiною ефективної густини довжини розсiяння рентґенiвського випромiнювання тонких (товщиною до 100 нм) металевих плiвок в рентґенiвських рефлектометричних експериментах на прикладi електрохiмiчних iнтерфейсiв. Структури з надзвичайно малою товщиною двошарової системи Ni/Ti та рiзним спiввiдношенням товщин пiдшарiв нiкелю та титану були синтезованi методом магнетронного напилення. Проаналiзовано дзеркальну вiдбивну здатнiсть рентґенiвського випромiнювання вiд поверхнi гетероструктур для визначення межi можливостi використання квазиоднорiдного наближення. Publishing house "Academperiodika" 2023-06-14 Article Article Original Research Article (peer-reviewed) Оригінальна дослідницька стаття (з незалежним рецензуванням) application/pdf application/pdf https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023082 10.15407/ujpe68.4.259 Ukrainian Journal of Physics; Vol. 68 No. 4 (2023); 259 Український фізичний журнал; Том 68 № 4 (2023); 259 2071-0194 2071-0186 10.15407/ujpe68.4 en uk https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023082/2975 https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023082/2976 Copyright (c) 2023 Bogolyubov Institute for Theoretical Physics, National Academy of Sciences of Ukraine |
| institution |
Ukrainian Journal of Physics |
| collection |
OJS |
| language |
English Ukrainian |
| topic |
тонкi плiвки багатошаровi структури нейтронна рефлектометрiя рентґенiвська рефлектометрiя електрохiмiчнi iнтерфейси оптимiзацiя сигналу thin films multilayered structures neutron reflectometry X-ray reflectometry electrochemical interfaces signal optimization |
| spellingShingle |
тонкi плiвки багатошаровi структури нейтронна рефлектометрiя рентґенiвська рефлектометрiя електрохiмiчнi iнтерфейси оптимiзацiя сигналу thin films multilayered structures neutron reflectometry X-ray reflectometry electrochemical interfaces signal optimization Kosiachkin, Y. Bulavin, L.A. Kopcansky, P. Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем |
| topic_facet |
тонкi плiвки багатошаровi структури нейтронна рефлектометрiя рентґенiвська рефлектометрiя електрохiмiчнi iнтерфейси оптимiзацiя сигналу thin films multilayered structures neutron reflectometry X-ray reflectometry electrochemical interfaces signal optimization |
| format |
Article |
| author |
Kosiachkin, Y. Bulavin, L.A. Kopcansky, P. |
| author_facet |
Kosiachkin, Y. Bulavin, L.A. Kopcansky, P. |
| author_sort |
Kosiachkin, Y. |
| title |
Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем |
| title_short |
Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем |
| title_full |
Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем |
| title_fullStr |
Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем |
| title_full_unstemmed |
Розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем |
| title_sort |
розвиток нейтронної рефлектометрії поверхневих шарів рідинних систем |
| title_alt |
Development of Neutron Reflectometry of Surface Layers of Liquid Systems |
| description |
In order to develop the methods of neutron and X-ray reflectometries for the study of surface layers of liquid systems, a method of increasing the sensitivity of the reflectometric experiment to the appearance and evolution of near-surface layers is proposed. Therefore, Ni/Ti multilayered heterostructures are tested regarding for the practical applicability of the quasi-homogeneous approach with varying effective scattering length density of thin (thickness <100 nm) metal films in X-ray reflectometry experiments on the example of electrochemical interfaces. The structures with extremely low thickness of the Ni/Ti bilayer with different thickness ratios of Ni- and Ti-sublayers are synthesized by magnetron sputtering. Specular reflectivities of X-rays from the heterostructures are analyzed to conclude about the limits of the quasi-homogeneous approximation. |
| publisher |
Publishing house "Academperiodika" |
| publishDate |
2023 |
| url |
https://ujp.bitp.kiev.ua/index.php/ujp/article/view/2023082 |
| work_keys_str_mv |
AT kosiachkiny developmentofneutronreflectometryofsurfacelayersofliquidsystems AT bulavinla developmentofneutronreflectometryofsurfacelayersofliquidsystems AT kopcanskyp developmentofneutronreflectometryofsurfacelayersofliquidsystems AT kosiachkiny rozvitoknejtronnoíreflektometríípoverhnevihšarívrídinnihsistem AT bulavinla rozvitoknejtronnoíreflektometríípoverhnevihšarívrídinnihsistem AT kopcanskyp rozvitoknejtronnoíreflektometríípoverhnevihšarívrídinnihsistem |
| first_indexed |
2023-10-18T23:28:05Z |
| last_indexed |
2023-10-18T23:28:05Z |
| _version_ |
1804810392060297216 |