Запис Детальніше

Substructural features of Zn(1-x)Mn(x)Te solid solution thin films

Electronic Archive of Sumy State University

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Substructural features of Zn(1-x)Mn(x)Te solid solution thin films
 
Creator Климов, Олексій Володимирович
Климов, Алексей Владимирович
Klymov, Oleksii Volodymyrovych
Курбатов, Денис Ігорович
Курбатов, Денис Игоревич
Kurbatov, Denys Ihorovych
Опанасюк, Анатолій Сергійович
Опанасюк, Анатолий Сергеевич
Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych
Данильченко, Сергій Миколайович
Данильченко, Сергей Николаевич
Danylchenko, Serhii Mykolaiovych
Хляп, Г.М.
Хляп, Г.М.
Khlyap, H.M.
 
Subject Substructure
X-ray diffraction patterns
Microdeformations
Orientation factor
 
Description В роботі проведене дослідження субструктурних характеристик плівок Zn(1-x)Mn(x)Te нанесених методом термічного випаровування у замкненому об’ємі при різних умовах конденсації. Розміри областей когерентного розсіювання (ОКР), рівень мікродеформацій, концентрація дефектів пакування в конденсатах, середня густина дислокацій на межах субзерен, в їх об’ємі та загальна визначені за фізичним уширенням дифракційних ліній з використанням апроксимації профілю рентгенівської лінії функціями Коші, Гауса та методом потрійної згортки функцій. Проведено порівняння результатів розрахунків з даними отриманими для нелегованих плівок ZnTe. Встановлено, що введення марганцю приводить до деякого погіршення субструктурних характеристик конденсатів порівняно з нелегованими шарами.
При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352
В работе проведено исследование субструктурных характеристик пленок Zn(1-x)Mn(x)Te нанесенных методом термического испарения в замкнутом объеме при различных условиях конденсации. Размеры областей когерентного рассеяния (ОКР), уровень микродеформаций, концентрация дефектов упаковки в конденсатах, средняя плотность дислокаций на границах субзерен, в их объеме и общая определены по физическим уширения дифракционных линий с использованием аппроксимации профиля рентгеновской линии функциями Коши, Гаусса и методом тройной свертки функций. Проведено сравнение результатов расчетов с данными полученными для нелегированных пленок ZnTe. Установлено, что введение марганца приводит к некоторому ухудшению субструктурного характеристик конденсатов по сравнению с нелегированной слоями.
При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352
The substructural characteristics of Zn(1-x)Mn(x)Te films deposited by closed space vacuum sublimation
method under various condensation conditions are investigated. Sizes of the coherent scattering domain
size, microdeformation degree, staking fault defects’ concentration in the condensates, the averaged dislo-
cation density at the subgrain boundaries and in their bulk as well as the total dislocation concentration
are determined by the physical broadening of the X-ray lines using the Cauchy and gauss approximations
and the threefold function convolution method. The calculations are compared with data for undoped ZnTe.
It is found out that the Mn-doping causes some degradation of structural characteristics of the condensates
compared with undoped layers.
When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352
 
Publisher Sumy State University Publishing
 
Date 2012-10-25T11:08:38Z
2012-10-25T11:08:38Z
2012-08-26
 
Type Article
 
Identifier Substructural features of Zn(1-x)Mn(x)Te solid solution thin films [Текст]/ D.I. Kurbatov, O.V. Klymov, A.S. Opanasyuk, S.M. Danilchenko, H.M. Khlyap // 2nd International Conference “Nanomaterials: Applications & Properties - 2012 (NAP-2012)” (17-22 September, 2012). – Alushta, the Crimea, Ukraine, 2012. — С. 03TF23-1.
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/29352
 
Language en