Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму
|
|
| Creator |
Колодій, З. О.
Недоступ, Л. А. Колодій, А. З. |
|
| Subject |
спектральна густина
флікер-шум spectral density flicker-noise |
|
| Description |
Запропоновано методику оцінки дефектності структури елементів електроніки за мінімальним значенням спектральної густини потужності їх флікер-шуму і мінімальним значенням середнього квадрата напруги шумів в діапазоні низьких частот. The method of estimation of electronic elements reliability using their minimal value of flicker-noise power spectral density and minimal value of noises voltage average square in the range of low frequencies is proposed.
|
|
| Date |
2010-02-19T15:29:02Z
2010-02-19T15:29:02Z 2009 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Колодій З. О. Методика оцінки дефектності структури елементів електроніки за рівнем їх флікер-шуму / З. О. Колодій, Л. А. Недоступ, А. З. Колодій // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 645 : Радіоелектроніка та телекомунікації. – С. 236-238. – Бібліографія: 6 назв.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/2487 |
|
| Language |
ua
|
|
| Publisher |
Видавництво Національного університету «Львівська політехніка»
|
|