Інтерферометрична установка для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин в діапазонах мм-субм довжин хвиль. Апробація на прикладі оптичного скла і кристалів кварцу, сапфіру та евлітину
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Інтерферометрична установка для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин в діапазонах мм-субм довжин хвиль. Апробація на прикладі оптичного скла і кристалів кварцу, сапфіру та евлітину
The interferometer device for plane-parallel plates refraction index estimation at mm to sub-mm wavelength. Testing the examples of optical glass and for quartz, sapphire, evlitin crystals |
|
| Creator |
Андрущак, Н. A.
Сиротинський, О. І. |
|
| Subject |
інтерферометрично-поворотний метод
показник заломлення плоскопаралельної пластини interferometer-turning method refractive index measurement |
|
| Description |
На основі запатентованого нами інтерферометрично-поворотного методу був створений та описаний принцип роботи експериментальної установки для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин із ізотропних чи анізотропних матеріалів в діапазонах міліметрових-субміліметрових (мм-субмм) довжин хвиль. Проаналізовано процес вимірювання зсуву інтерференційної картини на основі розробленого програмного забезпечення, наведено необхідні робочі співвідношення та оцінено експериментальну похибку визначення показника заломлення. Апробацію роботи установки на частоті джерела випромінювання f=33ГГц та відповідний розрахунок значень показників заломлення було здійснено на прикладі плоскопаралельних зразків із оптичного скла (n=1.53), кристалів кварцу (n=2.12), сапфіру (n=3.18) та евлітину (n=2.02). Based on patented by us interferometer-turning method the experimental set-up for refractive index measurement of parallel plates from isotropic and anisotropic materials in ranges millimeter-submillimeter (mm-submm) wave length have been created and described. The process of interference fringe shift measurement that based on created software has been analyzed, necessary working correlations have been given and experimental accuracy of refractive indexes measurement has been appraised. The set-up approbation for electromagnetic source f=33GGz frequency and necessary calculation of refractive indexes for parallel plate samples of optical glass (n=1.53) and crystaline quarts (n=2.12), sapphire (n=3.18) and evlitine (n=2.02) have been done. |
|
| Date |
2010-02-24T17:32:18Z
2010-02-24T17:32:18Z 2009 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Андрущак Н. A. Інтерферометрична установка для визначення показника заломлення плоскопаралельних пластин в діапазонах мм-субм довжин хвиль. Апробація на прикладі оптичного скла і кристалів кварцу, сапфіру та евлітину / Н. A. Андрущак, О. І. Сиротинський // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2009. – № 646 : Електроніка. – С. 179–184. – Бібліографія: 10 назв.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/2586 |
|
| Language |
ua
|
|
| Publisher |
Видавництво Національного університету “Львівська політехніка”
|
|