Trace impurities, intrinsic and radiation defects in oxide materials
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Trace impurities, intrinsic and radiation defects in oxide materials
|
|
| Creator |
Grachev, V.
Malovichko, G. Jorgensen, J. Meyer, M. Pankratov, V. Burak, Ya. Hunt, A. |
|
| Subject |
Electron Paramagnetic Resonance (EPR)
NASA |
|
| Date |
2010-06-16T12:29:39Z
2010-06-16T12:29:39Z 2009 |
|
| Type |
Technical Report
|
|
| Identifier |
Grachev V. Trace impurities, intrinsic and radiation defects in oxide materials. / V. Grachev, G. Malovichko, J. Jorgensen, M. Meyer, V. Pankratov, Ya. Burak, A. Hunt. // Oxide materials for electronic engineering - fabrication, properties and application : book of abstracts. International Scientific Workshop, June 22-26, 2009, Lviv, Ukraine / Lviv Polytechnic National University - Lviv, 2009. - 218 p. - p. 113
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5287 |
|
| Language |
en
|
|
| Publisher |
Національний університет “Львівська політехніка”
|
|