Remanent resistance changes at pcmo-metal interfaces: electrical induced polaron ordering
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Remanent resistance changes at pcmo-metal interfaces: electrical induced polaron ordering
|
|
Creator |
Meyer, B.-U.
Scherff, M. Hoffmann, J. Whu, L. Zhu, Y. Jooss, Ch. |
|
Subject |
electric pulse induced resistance changes (EPIR)
RRAM-technologies |
|
Date |
2010-06-21T07:03:12Z
2010-06-21T07:03:12Z 2009 |
|
Type |
Technical Report
|
|
Identifier |
Meyer B.-U. Remanent resistance changes at pcmo-metal interfaces: electrical induced polaron ordering. / B.-U. Meyer, M. Scherff, J. Hoffmann, L. Whu, Y. Zhu, Ch. Jooss. // Oxide materials for electronic engineering - fabrication, properties and application : book of abstracts. International Scientific Workshop, June 22-26, 2009, Lviv, Ukraine / Lviv Polytechnic National University - Lviv, 2009. - 218 p. - p. 147
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/5557 |
|
Language |
en
|
|
Publisher |
Національний університет „Львівська політехніка”
|
|