Raman and impedance spectroscopy of blend polycarbonate and inc oxide layers grown by sol−gel method
Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Raman and impedance spectroscopy of blend polycarbonate and inc oxide layers grown by sol−gel method
|
|
| Creator |
Popielarski, P.
|
|
| Subject |
zinc oxide
thin layers Raman spectra impedance spectroscopy |
|
| Description |
Confocal Raman spectroscopy has been applied to investigate blend polycarbonate and ZnO thin layers with different thicknesses and different content of ZnO. The admittance spectroscopy has been applied to correlation of optical and electrical properties of these layers used in electroluminescence diodes and photovoltaic cells. The thermally stimulated current (TSC) and I-V (DC and AC) characteristics have been applied to the study of the deep levels in ZnO thin films grown by sol−gel method onto Si substrates. The surface morphology of the samples were investigated by scanning microscopy and X ray diffraction. |
|
| Date |
2012-10-10T13:38:25Z
2012-10-10T13:38:25Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Popielarski P. Raman and impedance spectroscopy of blend polycarbonate and inc oxide layers grown by sol−gel method / P. Popielarski, K. Paprocki, W. Bała, A. Banaszak-Piechowska, K. Walczyk, K. Fabisia, M. Szybowicz // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України, Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 45-46. – Паралельний титульний аркуш англійською. – Bibliography: 10 titles.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/15160 |
|
| Language |
en
|
|
| Publisher |
Національний університет "Львівська політехніка"
|
|