Запис Детальніше

Admittance and photoadmittance spectroscopy of zinc oxide layers grown on p-Si substrates by sol−gel and spin coating method

Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Admittance and photoadmittance spectroscopy of zinc oxide layers grown on p-Si substrates by sol−gel and spin coating method
 
Creator Popielarski, P.
Bała, W.
Paprocki, K.
 
Subject Zinc Oxide
thin films
Sol-gel method
Admittance spectroscopy
electrical properties
 
Description In this work, the dielectric response of ZnO thin films has been studied over a temperature range of 200 K - 550 K. The dielectric response of polycrystalline ZnO thin films in the frequency domain was measured from 0.1 Hz - to 5 MHz frequencies with a small AC signal amplitude at
different temperatures. Influence of the light on conductivity has been also investigated. A universal power law relation
was brought into picture to explain the frequency dependence of AC conductivity. The temperature dependence of AC conductivity was analyzed in detail. The activation energy obtained from the temperature dependence of AC conductivity was attributed to the shallow trapcontrolled space charge conduction in the bulk of the sample.
 
Date 2012-10-10T13:06:12Z
2012-10-10T13:06:12Z
2012
 
Type Article
 
Identifier Popielarski P. Admittance and photoadmittance spectroscopy of zinc oxide layers grown on p-Si substrates by sol−gel and spin coating method / P. Popielarski, W. Bała, K. Paprocki // Оксидні матеріали електронної техніки – отримання, властивості, застосування (ОМЕЕ – 2012) : збірник матеріалів міжнародної наукової конференції, 3-7 вересня 2012 року, Львів, Україна / Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України, Національний університет “Львівська політехніка”. – Львів : Видавництво Львівської політехніки, 2012. – С. 47-48. – Паралельний титульний аркуш англійською. – Bibliography: 8 titles.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/15144
 
Language en
 
Publisher Національний університет "Львівська політехніка"