Rutherford backscattering and X-ray difraction analysis of Ag/ZnS/glass multilayer system
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Rutherford backscattering and X-ray difraction analysis of Ag/ZnS/glass multilayer system
Дослідження елементарного складу та структури багатошарової системи Ag/ZnS/скло Исследование элементного состава и структуры многослойной системы Ag/ZnS/стекло |
|
| Creator |
Балог, А. Г.
Балог, А. Г. Balogh, A. G. Дуванов, С. І. Дуванов, С. И. Duvanov, S. I. Курбатов, Денис Ігорович Курбатов, Денис Игоревич Kurbatov, Denys Ihorovych Опанасюк, Анатолій Сергійович Опанасюк, Анатолий Сергеевич Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych |
|
| Description |
В роботі проведене дослідження профілів розподілу елементів за товщиною, структурних властивостей та шорсткості поверхні плівок ZnS в багатошаровій системі Ag/ZnS/скло. Шари сульфіду цинку в системі були отримані методом вакуумної сублімації в замкнутому об’ємі при різних температурах конденсації. При цитуванні документа, використовуйте посилання http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 В работе проведено изучение профилей распределении элементов по толщине, структурных свойств и шероховатости поверхности для пленок ZnS в многослойной пленочной системе Ag/ZnS/стекло. Пленки сульфида цинка в системе были получены методом вакуумной сублимации в замкнутом объеме при разных температурах конденсации. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 Experimental results on the study of the element depth profiles, structural and rough ness properties of Ag/ZnS/glass multilayer system are repoted. The ZnS films in this system were obtained by close-spaced vacuum sublimation method (CVCS) under different substrate temperature. When you are citing the document, use the following link http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 |
|
| Publisher |
Одеса «Астропринт»
|
|
| Date |
2013-02-12T11:03:03Z
2013-02-12T11:03:03Z 2008 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Balogh A. G. Rutherford backscattering and X-ray difraction analysis of Ag/ZnS/glass multilayer system [Текст] / A. G. Balogh, S. I. Duvanov, D. I. Kurbatov, A.S. Opanasyuk // Photoelectronics. – 2008. – № 17. – P. 136-141.
UDC 621.382 http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/30131 |
|
| Language |
en
|
|