Прогнозирование стойкости микросхем при их работе в напряженных токовых режимах
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Прогнозирование стойкости микросхем при их работе в напряженных токовых режимах
|
|
| Creator |
Грибский, М.П.
Старостенко, В.В. Григорьев, Е.В. Таран, Е.П. Зуев, С.А. Унжаков, Д.А. |
|
| Description |
В работе получены данные по стойкости микросхем при воздействии мощных импульсных электромагнитных полей, получены численные значения пороговых полей катастрофических отказов к рассматриваемому виду воздействия вплоть до микросхем с 30 нанометровой технологией и размерами кристаллов до 20*20мм.
|
|
| Publisher |
Изд-во СумГУ
|
|
| Date |
2011-05-24T07:59:37Z
2011-05-24T07:59:37Z 2008 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Грибский, М.П. Прогнозирование стойкости микросхем при их работе в напряженных токовых режимах [Текст] / М.П. Грибский, В.В. Старостенко, Е.В. Григорьев, Е.П. Таран, С.А. Зуев, Д.А. Унжаков // Вісник Сумського державного університету. Серія Фізика, математика, механіка. — 2008. — №2. — С. 185-190.
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/9636 |
|
| Language |
ru
|
|