Запис Детальніше

Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу

eNUFTIR

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу
Паттерн-анализ входной информации в подсистеме технологического мониторинга диффузионного отделения сахарного завода
A patern-analysis of entrance information is in the subsystem of the technological monitoring of diffusive separation of sugar-house
 
Creator Зігунов, О. М.
Зигунов, А. М.
Zigunov, O.
Кишенько, В. Д.
Kyshenko, V.
Кишенько, В. Д.
 
Subject цукрове виробництво
патерн
вейвлет-перетворення
сахарное производство
паттерн
вейвлет-превращение
saccharine production
patern
veyvlet-transformation
 
Description Запропонований метод виявлення патернів в часових рядах за допомогою вейвлет-перетворень.Предложен метод выявления паттернов в часовых рядах с помощью вейвлет-превращений.The offered method of exposure of paterniv is in sentinel rows by veyvlet-transformations.
 
Date 2013-09-24T10:41:09Z
2013-09-24T10:41:09Z
2011
 
Identifier Зігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Тези доповідей. VIII Міжнародна науково-практична конференція "Математичне та програмне забезпечення інтелектуальних систем (MPZIS-2010), 10-12 листопада 2010 р.:– Дніпропетровськ: ДНУ ім. Олеся Гончара, 2011. - С. 109-116.
http://dspace.nuft.edu.ua/jspui/handle/123456789/9894