Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу
eNUFTIR
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу
Паттерн-анализ входной информации в подсистеме технологического мониторинга диффузионного отделения сахарного завода A patern-analysis of entrance information is in the subsystem of the technological monitoring of diffusive separation of sugar-house |
|
Creator |
Зігунов, О. М.
Зигунов, А. М. Zigunov, O. Кишенько, В. Д. Kyshenko, V. Кишенько, В. Д. |
|
Subject |
цукрове виробництво
патерн вейвлет-перетворення сахарное производство паттерн вейвлет-превращение saccharine production patern veyvlet-transformation |
|
Description |
Запропонований метод виявлення патернів в часових рядах за допомогою вейвлет-перетворень.Предложен метод выявления паттернов в часовых рядах с помощью вейвлет-превращений.The offered method of exposure of paterniv is in sentinel rows by veyvlet-transformations.
|
|
Date |
2013-09-24T10:41:09Z
2013-09-24T10:41:09Z 2011 |
|
Identifier |
Зігунов, О. М. Патерн-аналіз вхідної інформації в підсистемі технологічного моніторингу дифузійного відділення цукрового заводу / О. М. Зігунов, В. Д. Кишенько // Тези доповідей. VIII Міжнародна науково-практична конференція "Математичне та програмне забезпечення інтелектуальних систем (MPZIS-2010), 10-12 листопада 2010 р.:– Дніпропетровськ: ДНУ ім. Олеся Гончара, 2011. - С. 109-116.
http://dspace.nuft.edu.ua/jspui/handle/123456789/9894 |
|