СИСТЕМА КЛАСТЕРНОГО АНАЛІЗУ РЕЗУЛЬТАТІВ НЕРУЙНІВНОГО КОНТРОЛЮ ВИРОБІВ ІЗ КОМПОЗИЦІЙНИХ МАТЕРІАЛІВ НА ОСНОВІ НЕЙРОННОЇ МЕРЕЖІ КОХОНЕНА
Наукові журнали НАУ
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
СИСТЕМА КЛАСТЕРНОГО АНАЛІЗУ РЕЗУЛЬТАТІВ НЕРУЙНІВНОГО КОНТРОЛЮ ВИРОБІВ ІЗ КОМПОЗИЦІЙНИХ МАТЕРІАЛІВ НА ОСНОВІ НЕЙРОННОЇ МЕРЕЖІ КОХОНЕНА
СИСТЕМА КЛАСТЕРНОГО АНАЛИЗА РЕЗУЛЬТАТОВ НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ ИЗДЕЛИЙ ИЗ КОМПОЗИЦИОННЫХ МАТЕРИАЛОВ НА ОСНОВЕ НЕЙРОННОЙ СЕТИ КОХОНЕНА THE SYSTEM OF CLUSTER ANALYSIS OF RESULTS OF NON-DESTRUCTIVE CONTROL OF WARES IS FROM COMPOSITION MATERIALS ON BASIS OF NEURON NETWORK OF KOKHONENA |
|
| Creator |
Єременко, В. С.; Національний авіаційний університет
Переїденко, А. В.; Національний авіаційний університет Роганьков, В. О.; Національний авіаційний університет |
|
| Subject |
—
кластерний аналіз; неруйнівний контроль виробів; нейронна мережа Кохонена; кластеризація; программный пакет NI LabVIEW УДК 004.032.26(045) — кластерный анализ; неразрушающий контроль изделий; нейронная сеть Кохонена; кластеризация; программный пакет NI LabVIEW УДК 004.032.26(045) — cluster analysis; non-destructive testing products; kohonen neural network; clustering; software package NI LabVIEW UDC 004.032.26(045) |
|
| Description |
Наведено загальну характеристику процедури кластерного аналізу даних. Подано результати дослідження різних функцій відстані як критерію про схожість об’єктів. Описано систему проведеннякластерного аналізу і дослідження достовірності кластеризації із застосуванням алгоритмів на основіописаних мір близькості. Систему реалізовано в середовищі LabVIEW 8.5.
Приведена общая характеристика процедуры кластерного анализа данных. Поданы результаты исследования разных функций расстояния как критерия о схожести объектов. Описана система проведения кластерного анализа и исследования достоверности кластеризации с применением алгоритмов на основе описанных мер близости. Система реализована в среде LABVIEW 8.5. This article is devoted to realization system of the cluster analysis without etalon samples. Main different vectorspace metrics аre analyzed using the special control system. System was created with NI LabVIEW 8.5. |
|
| Publisher |
National Aviation University
|
|
| Contributor |
—
— — |
|
| Date |
2013-11-24
|
|
| Type |
—
— — |
|
| Format |
application/pdf
application/pdf application/pdf |
|
| Identifier |
http://jrnl.nau.edu.ua/index.php/SBT/article/view/5121
|
|
| Source |
Science-based technologies; Том 3, № 3 (2009); 73-77
Наукоемкие технологии; Том 3, № 3 (2009); 73-77 Наукоємні технології; Том 3, № 3 (2009); 73-77 |
|
| Language |
uk
|
|