Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE
|
|
| Creator |
Опанасюк, Анатолій Сергійович
Опанасюк, Анатолий Сергеевич Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Коваль, Павло Вікторович Коваль, Павел Викторович Koval, Pavlo Viktorovych Магілін, Д.В. Магилин, Д.В. Magilin, D.V. Пономарьов, О.Г. Пономарев, А.Г. Ponomarev, O.G. Чеонг, Х. Cheong, H. |
|
| Subject |
пленки Cu2ZnSnSe4
поглащающие слои элементный состав карты распределения |
|
| Description |
В этой работе в результате исследований элементного состава пленок CZTSe построены карты распределения элементов входящих в состав соединения по площади поверхности, а также определен элементный состав пленок в зависимости от режимов получения образцов. При цитировании документа, используйте ссылку http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063 |
|
| Publisher |
Московский государственный университет им М.В. Ломоносова
|
|
| Date |
2014-03-11T10:55:31Z
2014-03-11T10:55:31Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Анализ элементного состава пленок CZTSе методом PIXE и m-PIXE [Текст]/ А.С. Опанасюк, П.В. Коваль, Д.В. Магилин, А.Г. Пономарьов, Х. Чеонг // Тезисы докладов ХLIII международной Тулиновской конференции по физике взаимодействия заряженных частиц с кристаллами / Под ред. проф. М.И. Панасюка. – М.: Изд-во Московского университета, 2013. – C. 103.
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/34063 |
|
| Language |
ru
|
|