Використання методу "напівтонких зрізів" для вивчення структури зразків, які використовуються в електронній мікроскопії
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Використання методу "напівтонких зрізів" для вивчення структури зразків, які використовуються в електронній мікроскопії
|
|
| Creator |
Цимбал, М.С.
Бончев, Сергій Дмитрович Бончев, Сергей Дмитриевич Bonchev, Serhii Dmytrovych |
|
| Subject |
електронна мікроскопія
электронная микроскопия |
|
| Description |
Вивчення структури напівтонких зрізів незамінний метод морфологічних досліджень. Для того, щоб електронномікроскопічне дослідження досягло своїх прямих цілей (вивчення ультраструктури) майже завжди необхідно проводити вивчення напівтонкого зріза виготовленого препарата. Це дозволяє більш точно та прицільно оцінити топографію досліджуваного об’єкта на тканинному та клітинному рівнях, розширити границі дослідження, використати кольорове фарбування та раціонально вибрати ділянку для виготовлення ультратонких зрізів.
|
|
| Publisher |
Сумський державний університет
|
|
| Date |
2014-06-13T08:09:38Z
2014-06-13T08:09:38Z 2014 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Цимбал, М.С. Використання методу "напівтонких зрізів" для вивчення структури зразків, які використовуються в електронній мікроскопії [Текст] / М.С. Цимбал, С.Д. Бончев ; Наук. кер. В.З. Сікора
// Актуальні питання теоретичної та практичної медицини : збірник тез доповідей ІІ Міжнародної науково-практичної конференції студентів та молодих вчених, м. Суми, 16-18 квітня 2014 р. / М.В. Погорєлов. - Суми : СумДУ, 2014. - С. 99-100.
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35772 |
|
| Language |
uk
|
|