Structural Properties and Elemental Composition of Au+ Implanted ZnO Films, Obtained by Sol-gel Method
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Structural Properties and Elemental Composition of Au+ Implanted ZnO Films, Obtained by Sol-gel Method
Структурні властивості та елементний склад імплантованих Au+ плівок ZnO:Al, отриманих золь-гель методом Структурные свойства и элементный состав имплантированных Au+ пленок ZnO:Al, полученных золь-гель методом |
|
| Creator |
Погребняк, Олександр Дмитрович
Погребняк, Александр Дмитриевич Pohrebniak, Oleksandr Dmytrovych Takeda, Y. Oyoshi, K. Komarov, F.F. Kassi, J. Опанасюк, Анатолій Сергійович Опанасюк, Анатолий Сергеевич Opanasiuk, Anatolii Serhiiovych Бересток, Таїсія Олександрівна Бересток, Таисия Александровна Berestok, Taisiia Oleksandrivna |
|
| Subject |
ZnO:Al
Implantation Au+ Sol-gel method RBS Raman investigation імплантування Au+ золь-гель метод Раманівська спектроскопія имплантация Au+ золь-гель метод Рамановская спектроскопия |
|
| Description |
Методами RBS, рентгеноструктурного аналізу та раманівського розсіювання були досліджені леговані та нелеговані алюмінієм плівки ZnO, отримані за допомогою золь-гель методу на скляних підкладках з по- дальшим імплантуванням іонами Au+ . Рентгенодифрактометричний аналіз показав, що зразки мають гек- сагональну структуру з постійними гратки a 0.3245-0.3248 нм, c 0.5203-0.5204 нм, c / a 1.602-1.603 та текстурою росту [101]. Середній розмір ОКР в зразках становить L(100) 13.3-13.6 нм, L(002) (11.3-12.6) нм, L(101) 12.0-12.2 нм. Встановлено, що розмір ОКР, період гратки та якість текстури отриманих зразків не залежать від імплантування плівок ZnO іонами Au+. За даними рентгеноструктурного аналізу показано, що іони золота у плівках знаходяться в основному у вигляді фази AuZn3. Методами RBS , рентгеноструктурного анализа и рамановского рассеяния были исследованы ле- гированные и нелегированные алюминием пленки ZnO, полученные с помощью золь - гель метода на стеклянных подложках с последующим имплантированием ионами Au+. Рентгенодифрактометриче- ский анализ показал, что образцы имеют гексагональную структуру с постоянными решетки a 0.3245-0.3248 нм, c 0.5203-0.5204 нм, c / a 1.602-1.603 и текстурой роста [101]. Средний размер ОКР в образцах составляет L(100) 13.3-13.6 нм , L(002) (11.3-12.6) нм , L(101) 12.0-12.2 нм. Установле- но, что размер ОКР, период решетки и качество текстуры полученных образцов не зависят от имплан- тирования пленок ZnO ионами Au+. По данным рентгеноструктурного анализа показано, что ионы зо- лота в пленках находятся в основном в виде фазы AuZn3. The undoped and doped aluminum ZnO films were obtained by sol-gel method onto glass substrates with further implantation of Au+ ions. RBS, XRD methods and Raman spectroscopy were used for films characterization. The XRD analysis showed that obtained samples have a hexagonal structure with lattice constants a 0.3245-0.3249 nm, c 0.5203-0.5204 nm, c / a 1.602-1.603 and growth texture [101]. The values of coherent scattering domains (CSD) were equal to L(201) (13.0-13.9) nm, L(101) (12.0-12.2) nm, L(002) (11.3-12.6) nm. It is found that there is not observed the effects of Au+ implantation on the values of CSD, lattice constants and texture of the films. According to X-ray analysis ions of gold in the films are mainly incorporated in the form of phase of AuZn3. |
|
| Publisher |
Sumy State University
|
|
| Date |
2014-07-25T08:58:15Z
2014-07-25T08:58:15Z 2014 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
A.D. Pogrebnjak, T.O. Berestok , A.S. Opanasyuk, et al., J. Nano- Electron. Phys. 6 No 2, 02003 (2014)
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/35958 |
|
| Language |
en
|
|