Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно - силового мікроскопу діелектричних поверхонь
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Механізм виникнення та нейтралізація залишкової трибоелектрики при скануванні кремнієвим зондом атомно - силового мікроскопу діелектричних поверхонь
Механизм возникновения и нейтрализация остаточного трибоэлектричества при сканировании кремниевым зондом атомно - силового микроскопа диэлектрических поверхностей Mechanism of Origin and Neutralization of Residual Triboelectricity at Scanning of Dielectric Surfaces by a Silicon Probe of the Atomic - force Microscope |
|
| Creator |
Бондаренко, М.О.
Білокінь, С.О. Антонюк, В.С. Бондаренко, Ю.Ю. |
|
| Subject |
Атомно-силова мікроскопія
Трибоелектрика Діелектрична поверхня Кремнієвий зонд Багатофотонна іонізація Атомно-силовая микроскопия Трибоэлектричество Диэлектрическая поверхность Кремниевый зонд Многофотонная ионизация Трибоэлектричество Atomic-force microscopy Triboelectricity Dielectric surface Silicon probe Multiphoton ionization |
|
| Description |
В статті встановлені причини та наведений механізм руйнівної дії сил електростатичної взаємодії кремнієвого зонду з діелектричними поверхнями при дослідженні їх мікрогеометрії та механічних характеристик методом атомно-силової мікроскопії. Проведений розрахунок сил електростатичної взаємодії двох кремнієвих поверхонь та визначена руйнівна дія електростатичного розряду, що виникає внаслідок трибоелектричного ефекту. Запропонований модуль зняття електростатичного заряду, принцип роботи якого полягає у формуванні зони провідності в місці контакту двох діелектриків шляхом багатофотонної іонізації. Показано, що застосування такого способу нейтралізації залишкової трибоелектрики підвищує точність, надійність та відтворюваність результатів сканування. В статье установлены причины и приведен механизм разрушительного действия сил электростатического взаимодействия кремниевого зонда с диэлектрическими поверхностями при исследовании их микрогеометрии и механических характеристик методом атомно-силовой микроскопии. Проведен расчет сил электростатического взаимодействия двух кремниевых поверхностей и определено разру- шительное действие электростатического разряда, который возникает в результате трибоелектричного эффекта. Предложен модуль снятия электростатического заряда, принцип работы которого заключается в формировании зоны проводимости в месте контакта двух диэлектриков путем многофотонной ионизации. Показано, что применение такого способа нейтрализации остаточного трибоэлектричества повышает точность, надежность и воспроизводимость результатов сканирования. The reasons and mechanism of the destructive effect of the electrostatic interaction forces of silicon probe and dielectric surfaces are established in the paper at the investigation of the surface microgeometry and mechanical characteristics by the atomic-force microscopy method.Calculation of the electrostatic interaction forces of two silicon surfaces is carried out and the destructive effect of electrostatic discharge appearing as a result of triboelectric effect is determined.The module of removal of electrostatic charge is proposed. Its principle of operation consists in the formation of the conduction band in the place of contact of two dielectrics by the multiphoton ionization. It is shown that application of such method of neutralization of residual triboelectricity improves accuracy, reliability, and reproducibility of the scanning results. |
|
| Publisher |
Сумський державний університет
|
|
| Date |
2014-07-28T09:42:57Z
2014-07-28T09:42:57Z 2014 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
М.А. Бондаренко, С.А. Билоконь, В.С. Антонюк, Ю.Ю. Бондаренко, Ж. нано- электрон. физ. 6 № 2, 02018 (2014)
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/36034 |
|
| Language |
uk
|
|