Запис Детальніше

Зміна зарядового стану йонів ітербію у сильноактивованих кристалах та епітаксійних плівках Yb:Y3Al3o12

Електронний науковий архів Науково-технічної бібліотеки Національного університету "Львівська політехніка"

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Зміна зарядового стану йонів ітербію у сильноактивованих кристалах та епітаксійних плівках Yb:Y3Al3o12
Recharge processes of yterbium ions on highly doped Yb:Y3Al3o12 single crystals and epitaxial films
 
Creator Мартинюк, Н. В.
Бурий, О. А.
Убізський, С. Б.
Сиворотко, І. І.
Бьоргер, А.
Беккер, К. Д.
 
Description Наведено результати вивчення впливу домішок на перезарядку йонів Yb3+ « Yb2+ під час термохімічних обробок у кристалах Yb:Y3Al5O12 (Yb:ІАГ). Засобами оптичної спектроскопії та вимірюванням часу життя верхнього лазерного рівня досліджено монокристали Yb:Y3Al5O12, Yb3Al5O12 (YbAГ), Ni:Yb3Al5O12, K:Yb3Al5O12, вирощені за методом Чохральського, а також монокристалічні плівки Yb:ІАГ, одержані методом
рідинно-фазної епітаксії. Встановлено, що процес відновлення Yb3+ ® Yb2+ в Yb:ІАГ може бути реверсивним або нереверсивним, залежно від наявності в кристалі легуючих або неконтрольованих домішок. In this communication we report about our study on the influence of impurities on recharge processes Yb3+ « Yb2+ under thermo-chemical treatments in Yb:Y3Al5O12 (Yb:YAG) crystals and films. Single crystals of Yb:Y3Al5O12, Yb3Al5O12 (YbAG), Ni:Yb3Al5O12, K:Yb3Al5O12 grown by Czochralski- technique as well as single crystalline films of Yb:Y3Al5O12 grown by liquid phase epitaxy were investigated by means of fluorescence lifetime measurements and optical spectrometry. It was found, that the reduction process Yb3+ ® Yb2+ in Yb:YAG can be reversible or non-reversible depending on the presence of additional (doping or impurity) ions.
 
Date 2009-09-15T11:11:04Z
2009-09-15T11:11:04Z
2008
 
Type Article
 
Identifier Зміна зарядового стану йонів ітербію у сильноактивованих кристалах та епітаксійних плівках Yb:Y3Al3o12 / Н. В. Мартинюк, О. А. Бурий, С. Б. Убізський, І. І. Сиворотко, А. Бьоргер, К. Д. Беккер // Вісник Національного університету "Львівська політехніка". – 2008. – № 619 : Електроніка. – С. 87–93. – Бібліографія: 14 назв.
http://ena.lp.edu.ua:8080/handle/ntb/1865
 
Publisher Видавництво Національного університету "Львівська політехніка"