Formation factors of stable nanocrystalline thin films
Electronic Archive of Sumy State University
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Formation factors of stable nanocrystalline thin films
|
|
| Creator |
Панчеха, Петро Олексійович
Панчеха, Петр Алексеевич Panchekha, P. O. Басов, Андрій Геннадійович Басов, Андрей Геннадиевич Basov, Andrii Hennadiiovych |
|
| Description |
Анализируются экспериментальные данные о концентрации и температурной стабильности межзеренных границ и дефектов упаковки в тонких пленках металлов с некристаллической структурой. Сделан вывод, что образование этих дефектов в процессе конденсации уменьшает свободную энергию тонких пленок.
Experimental data on concentrations and temperature stability of intergrain boundaries and stacking faults in thin metal films of nanocrystalline structure are considered. The defect formation in the course of condensation has been concluded to decrease the thin film free energy. |
|
| Publisher |
Institute for Single Crystals
|
|
| Date |
2011-12-27T07:10:15Z
2011-12-27T07:10:15Z 2003 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Formation factors of stable nanocrystalline
thin films / P.A.Panchekha, A.G.Basov
// Functional Materials. — 2003. — Vol. 10, № 3. — Pp. 395-401.
http://essuir.sumdu.edu.ua/handle/123456789/22493 |
|
| Language |
en
|
|