Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях
Репозитарій Вінницького Національного Технічного Університету
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях
Способ измерения толщины диэлектрического покрытия на металлической поверхности METHOD FOR MEASURING THE THICKNESS OF DIELECTRIC COATING ON A METALLIC SURFACE |
|
| Creator |
Шабатура, Юрій Васильович
Овчинников, Костянтин В'ячеславович Шабатура, Юрий Васильович Овчинников, Константин Вячеславович Shabatura, Yurii Vasyliovych Ovchynnykov, Kostiantyn Vіасhеslаvоvусh |
|
| Subject |
G01B 5/00
покритття металевих поверхонь вимірювання товщини покриття діелектричне покриття |
|
| Description |
Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях може бути використаний для контролю процесу їх нанесення на металеві поверхні.
Предлагается способ измерения толщины диэлектрического покрытия на металлической поверхности. It is proposed a method for measuring the thickness of dielectric coating on a metallic surface. |
|
| Date |
2015-07-30T08:33:06Z
2015-07-30T08:33:06Z 2007-08-25 |
|
| Type |
Patent
|
|
| Identifier |
26546
Пат. 26546 UA, МПК G01B 5/00. Спосіб вимірювання товщини діелектричних покрить на металевих поверхнях [Текст] / Ю. В. Шабатура, К. В. Овчинников (Україна). - № u200705608 ; заявл. 21.05.2007 ; опубл. 25.09.2007, Бюл. № 15. - 3 с. : кресл. http://ir.lib.vntu.edu.ua/handle/123456789/1527 |
|
| Language |
uk_UA
|
|
| Publisher |
Державне підприємство "Український інститут промислової власності"
|
|