Electrical Impedance Tomography potential sensitivity
Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування.
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Electrical Impedance Tomography potential sensitivity
Потенциальная чувствительность импедансной томографии Потенційна чутливість імпедансної томографії |
|
Creator |
Sushko, I. O.; Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут”
Gaydayenko, E. V.; Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут” Yakubenko, A. A.; Національний технічний університет України “Київський політехнічний інститут” |
|
Subject |
phantom, electrical impedance tomography; sensitivity; increment; measuring accuracy; inhomogeneity
фантом; импедансная томография; чувствительность; приращение; точность измерений; неоднородность фантом; імпедансна томографія; чутливість; прирощення; точність вимірювань; неоднорідність |
|
Description |
The analysis of EIT phantom outline voltage measuring accuracy is carried out in this article. This accuracy is necessary for exposure of single inhomogeneity presence: "small" (it’s square is equal 3% of global phantom square), "middle" (8,5%) and “big” (19,59%) with different surface conductivity values of these inhomogeneities (background is phantom with surface conductivity σ=1). Measuring was imitated by homogeneous phantom and phantoms with inhomogeneities voltage calculating and voltage difference computing (increment) between homogeneous phantom and phantoms with inhomogeneities. Inhomogeneities with bigger surface conductivity value than background conductivity value give significantly less voltage increments than inhomogeneities with smaller surface conductivity value than background. More sensitivity with closer position to phantom outline and bigger inhomogeneities size is illustrated by means of numerous increments values. Necessary measuring accuracy numerical assessments are proposed for considered inhomogeneities.
В работе проведен анализ точности измерений в импедансной томографии напряжений по обводу фантома, необходимой для выявления (по измерениям) наличия отдельных неоднородностей: «маленькой» (площадь составляет 3% от общей площади фантома), «средней» (8,5%) и «большой» (19,59%) при разных значениях поверхностной проводи мости этих неоднородностей (на фоне фантома с поверхностной при σ=1). Измерения были сымитированы расчетами напряжений равномерного фантома, фантомов с неоднородностями и расчетом разницы напряжений (приращений) между равномерным фантомом и фантомами с неоднородностями. Показано, что неоднородности с поверхностной проводимостью большей, чем проводимость «фона» дают значительно меньшие приращения напряжений, чем неоднородности с меншими проводимостями, чем у фона. В роботі проведено аналіз точності вимірювань в імпедансній томографії напруг по обводу фантома, необхідної для розрізнення (по вимірюванням) наявності поодиноких неоднорідностей: «маленької» (площа становить 3% від загальної площі фантома), «середньої» (8,5%) та «великої» (19,59%) при різних значеннях поверхневої провідності цих неоднорідностей (на фоні фантома з поверхневою провідністю σ=1). Вимірювання було імітовано розрахунками напруг рівномірного фантома, фантомів з неоднорідностями та обчисленням різниць напруг (прирощень) між рівномірним фантомом та фантомами з неоднорідностями. Показано, що неоднорідності з поверхневою провідністю, більшою, ніж провідність «фону» дають суттєво менші прирощення напруг, ніж неоднорідності з меншими, ніж «фону» провідностям. Проілюстровано (чисельними значеннями прирощень) більшу чутливість при розташуванні неоднорідностей ближче до краю фантома та більших за розміром неоднорідностей. Наведено числові оцінки необхідної точності вимірювань для розглянутих варіантів неоднорідностей. |
|
Publisher |
National Technical University of Ukraine
|
|
Date |
2012-11-29
|
|
Type |
info:eu-repo/semantics/article
info:eu-repo/semantics/publishedVersion |
|
Format |
application/pdf
|
|
Identifier |
http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/237
|
|
Source |
BULLETIN of National Technical University of Ukraine. Series RADIOTECHNIQUE. RADIOAPPARATUS BUILDING; № 50 (2012); 92-104
Вісник НТУУ "КПІ". Серія Радіотехніка, Радіоапаратобудування; № 50 (2012); 92-104 Вестник НТУУ "КПИ". Серия Радиотехника, Радиоаппаратостроение; № 50 (2012); 92-104 |
|
Language |
ukr
|
|
Relation |
http://radap.kpi.ua/radiotechnique/article/view/237/273
|
|
Rights |
1. Автори залишають за собою право на авторство своєї роботи та передають журналу право першої публікації цієї роботи на умовах ліцензії Creative Commons Attribution License, котра дозволяє іншим особам вільно розповсюджувати опубліковану роботу з обов'язковим посиланням на авторів оригінальної роботи та першу публікацію роботи у цьому журналі.2. Автори мають право укладати самостійні додаткові угоди щодо неексклюзивного розповсюдження роботи у тому вигляді, в якому вона була опублікована цим журналом (наприклад, розміщувати роботу в електронному сховищі установи або публікувати у складі монографії), за умови збереження посилання на першу публікацію роботи у цьому журналі.3. Політика журналу дозволяє і заохочує розміщення авторами в мережі Інтернет (наприклад, у сховищах установ або на особистих веб-сайтах) рукопису роботи, як до подання цього рукопису до редакції, так і під час його редакційного опрацювання, оскільки це сприяє виникненню продуктивної наукової дискусії та позитивно позначається на оперативності та динаміці цитування опублікованої роботи (див. The Effect of Open Access).
|
|