Применение нейронных сетей для мониторинга состояния оборудования глобальных сетей ЭВМ с динамической маршрутизацией
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Применение нейронных сетей для мониторинга состояния оборудования глобальных сетей ЭВМ с динамической маршрутизацией
|
|
| Creator |
Бабенко, К.Ю.
Киреев, О.С. |
|
| Subject |
Обчислювальні системи
|
|
| Description |
Предложен нейросетевой подход к корреляции сообщений о неисправностях в глобальной сети ЭВМ с динамической маршрутизацией. Рассмотрены модель глобальной сети ЭВМ и типичные сценарии неисправностей. Показаны преимущества предлагаемого метода по сравнению с широко распространенной топологической корреляцией. Произведена оценка быстродействия метода, свидетельствующая о его высокой эффективности. Табл.: 2. Ил.: 4. Библиогр.: 8 назв.
Запропоновано підхід із застосуванням нейронних мереж до проблеми корреляції повідомлень про несправності у глобальній мережі ЕОМ з динамічною маршрутизацією. Розглянуто модель глобальної мережі ЕОМ та типові сценарії несправностей. Показано переваги методу порівняно з загально розповсюдженою топологічною кореляцією. Отримано оцінку швидкодії методу, яка свідчить про його високу ефективність. Табл.: 2. Іл.: 4. Бібліогр.: 8 назв. Neural networks approach to fault messages correlation in wide area network (WAN) with dynamic routing is proposed. WAN model and typical fault scenarios are considered. Method advantages over widespread topology correlation technique are shown. Method speed estimation indicates high efficiency of the proposed method. Tabl.: 2. Figs.: 4. Refs.: 8 titles. |
|
| Date |
2008-06-23T10:11:07Z
2008-06-23T10:11:07Z 2003 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Применение нейронных сетей для мониторинга состояния оборудования глобальных сетей ЭВМ с динамической маршрутизацией / Бабенко К.Ю., Киреев О.С. // Математические машины и системы. – 2003. – № 2. – С. 87 – 95.
1028-9763 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/724 681.3 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
|
|