Об использовании вероятностно-физических моделей отказов для оценки вероятностей элементарных событий, порождающих техногенную опасность
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Об использовании вероятностно-физических моделей отказов для оценки вероятностей элементарных событий, порождающих техногенную опасность
|
|
Creator |
Серебровский, А.Н.
Стрельников, В.П. |
|
Subject |
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
|
|
Description |
Предлагается методика оценок вероятностей элементарных нежелательных событий, порождающих техногеннуюопасность. Методика использует вероятностно-физические модели отказов. Работа может быть использована приразработке математического обеспечения автоматизированных систем контроля и анализа безопасности потенциальноопасных объектов. Библиогр.: 5 назв.
Пропонується методика оцінок імовірності елементарних небажаних подій, що породжують техногенну небезпеку. Методика використовує імовірнісно-фізичні моделі відмов. Робота може бути використана при розробці математичного забезпечення автоматизованих систем контролю й аналізу безпеки потенційно небезпечних об'єктів. Бібліогр.: 5 назв. The method for estimation the probability of elementary undesirable events which cause technogenic danger, is offered. The principles of probabilistic-physical models of failures are used. The work can be utilized when developing software of the automated systems for control and analysis of potential-hazardous objects safety. Refs.: 5 titles. |
|
Date |
2008-06-27T14:26:39Z
2008-06-27T14:26:39Z 2007 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Об использовании вероятностно-физических моделей отказов для оценки вероятностей элементарных событий,порождающих техногенную опасность / Серебровский А.Н., Стрельников В.П. // Математические машины и системы. –2007. – № 1. – С. 137 – 143.
1028-9763 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/817 504.056 |
|
Language |
ru
|
|
Publisher |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
|
|