О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники
|
|
| Creator |
Федухин, А.В.
|
|
| Description |
Получено выражение, позволяющее вычислять долевые участия составных процессов деградации для любого форсированного по температуре режима испытаний, которое положено в основу процедуры преобразования диаграммы Парето. Предложена уточненная оценка коэффициента вариации обобщенного процесса деградации.
|
|
| Date |
2010-03-02T10:11:51Z
2010-03-02T10:11:51Z 2003 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
О влиянии температуры на характер деградационной картины изделий электронной техники / А.В. Федухин // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2003. — № 2. — С. 113-118. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
1817-9908 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6388 621.382-192 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
|
|