Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат
|
|
| Creator |
Романов, В.А.
Галелюка, И.Б. |
|
| Description |
Рассмотрены методы совершенствования параметров аналоговых интерфейсов на основе БИС и особенности оценки эффективности этих методов с помощью виртуальных плат.
It is considered signal averaging to increase the ADC resolution and time interleaving to increase ADC sample rate. The methods are checked with virtual evaluation board. |
|
| Date |
2010-03-04T10:48:49Z
2010-03-04T10:48:49Z 2006 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Методы совершенствования параметров микроэлектронных компонентов и анализ их эффективности с помощью виртуальных оценочных плат / В.А. Романов, И.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2006. — № 5. — С. 133-140. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
1817-9908 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6449 381.3 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
|
|