Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП
|
|
Creator |
Романов, В.О.
Галелюка, І.Б. |
|
Description |
Розглянуті параметри сучасних мікроелектронних швидкодіючих АЦП, що підлягають тестуванню та оцінюванню. Показано, що в умовах виробництва доцільно використовувати складне і коштовне обладнання для тестування параметрів швидкодіючих АЦП, а при проектуванні нових пристроїв на основі цих АЦП доречно використовувати віртуальні засоби тестування та оцінювання їх параметрів.
In the article it is listed the microelectronic high-speed ADC parameters, which have to be tested and evaluated. It is shown, that at the manufacture it is expediently to use complicated and expensive equipments to evaluate parameters of high-speed ADC. But during designing of new devices on the base of high-speed ADC it is appropriate to use virtual tools for ADC parameters evaluating. |
|
Date |
2010-03-04T14:35:23Z
2010-03-04T14:35:23Z 2007 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Тестування та оцінювання параметрів швидкодіючих АЦП / В.О. Романов, І.Б. Галелюка // Комп’ютерні засоби, мережі та системи. — 2007. — № 6. — С. 52-60. — Бібліогр.: 3 назв. — укр.
1817-9908 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6487 381.3 |
|
Language |
uk
|
|
Publisher |
Інститут кібернетики ім. В.М. Глушкова НАН України
|
|