Метрология интеллектуальных систем
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Метрология интеллектуальных систем
|
|
| Creator |
Анцыферов, С.С.
|
|
| Subject |
Концептуальные проблемы искусственного интеллекта
|
|
| Description |
В статье рассмотрены системные принципы метрологического обеспечения проектирования систем с элементами искусственного интеллекта. Структурно-стохастический принцип аппроксимации информации пространственно-временных полей обеспечивает преодоление существенной априорной неопределенности и высокие метрологические показатели по скорости адаптации, достоверности и устойчивости результатов. У статті розглянуті системні принципи метрологічного забезпечення проектування систем з елементами штучного інтелекту. Структурно-стохастичний принцип апроксимації інформації просторово-часових полів забезпечує подолання істотної апріорної невизначеності і високі метрологічні показники швидкості адаптації, достовірності і стійкості результатів. The system principles of metrological assurance of intellectual systems designing, i.e. the systems with elements of an artificial intelligence are considered. The structurally-stochastic principle of approximation ensures overcoming of essential a priori indeterminacy and assures high metrology parameters on a velocity of adaptation, reliability of results. |
|
| Date |
2010-03-18T12:26:09Z
2010-03-18T12:26:09Z 2008 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Метрология интеллектуальных систем / С.С. Анцыферов // Штучний інтелект. — 2008. — № 3. — С. 18-27. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
1561-5359 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/6816 681.518.5; 621.384.3 |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
|
|