Оптические характеристики световозвращающих элементов
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Оптические характеристики световозвращающих элементов
|
|
Creator |
Антонов, Е.Е.
Шанойло, С.М. Шиховец, А.В. Чжан, Минг Лю, Кай |
|
Subject |
Фізичні основи, принципи та методи реєстрації даних
|
|
Description |
Проанализированы оптические характеристики световозвращающих элементов при различных условиях освещения их рабочих поверхностей. Исследовано влияние процесса металлизации поверхности с микрорельефом на коэффициент световозвращения для симметричных и асимметричных световозвращающих элементов. Предложены методы контроля качества оптических поверхностей.
Проведено аналіз оптичних характеристик світлоповертальних елементів при різних кутах освітлення робочих поверхонь. Запропоновано методику діагностики якості оптичних поверхонь на основі аналізу дифракційної картини, що виникає при проходженні лазерного випромінювання через мікрорельєф. Досліджено вплив процесу металізації поверхонь з мікрорельєфом на коефіцієнт світлоповертання для симетричних та асиметричних світлоповертальних елементів. An analysis of optical characteristics of retroreflective elements for different angles of illumination of their surfaces is carried out. Diagnostics method for optical surfaces quality by diffraction phenomena with laser beam is proposed. The influence of microrelief surface metallization process on retroreflection coefficient for symmetric and asymmetric retroreflective elements is investigated. |
|
Date |
2010-04-02T12:23:16Z
2010-04-02T12:23:16Z 2008 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Оптические характеристики световозвращающих элементов / Е.Е. Антонов, С.М. Шанойло, А.В. Шиховец, Минг Чжан, Кай Лю // Реєстрація, зберігання і оброб. даних. — 2008. — Т. 10, № 2. — С. 13-22. — Бібліогр.: 4 назв. — рос.
1560-9189 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/7563 535.241.5 |
|
Language |
ru
|
|
Relation |
Реєстрація, зберігання і обробка даних
|
|
Publisher |
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України
|
|