Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени
|
|
Creator |
Кутаев, Ю.Ф.
Тимченко, Л.И. Кокряцкая, Н.И. Губернаторов, В.А. Поплавский, А.А. |
|
Subject |
Распознавание образов. Цифровая обработка сигналов
|
|
Description |
В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений. У статті розглядається проблема контролю форми поверхні плями випромінювання у реальному часі. Пропонується використання методу перетинів для формування вибірки і наступної обробки подальших зображень. Now in polygraphy, laser processing of materials, a location, optical communication and other areas of engineering necessity of wider implantation of optically-electronic systems with automatic adjustment of distortions of formed light radiation is felt. Destabilising effect of mechanical or climatic factors, instability of characteristics of a source of radiation, indignation in an optical path can be the reasons of these distortions, in preliminary adjustment optical units, etc. Support of comprehensible quality of correction demands continuous runtime check of characteristics of light radiation, for example space allocation of its intensity, including an estimation of deviation of the specified allocation from initial or standard allocation. In the given operation theoretical bases on solution of the given problem are considered, the modelling which results are presented. |
|
Date |
2010-05-14T09:46:26Z
2010-05-14T09:46:26Z 2009 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, Н.И. Кокряцкая, В.А. Губернаторов, А.А. Поплавский // Штучний інтелект. — 2009. — № 4. — С. 548-554. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
1561-5359 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/8194 004.89:004.93 |
|
Language |
ru
|
|
Publisher |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
|
|