Учет вторичных дефектов в моделях надежности программных средств
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Учет вторичных дефектов в моделях надежности программных средств
|
|
| Creator |
Одарущенко, О.Н.
Руденко, А.А. Харченко, В.С. |
|
| Subject |
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
|
|
| Description |
Анализируются допущения, принятые в моделях оценки надежности программных средств, на предмет внесения новых (вторичных) дефектов в процессе устранения обнаруженных ранее дефектов. Изложен порядок нахождения параметров функции риска для различных моделей. Характеризуется возможность применения моделей оценки надежности программных средств с учетом вторичных дефектов.
Аналізуються припущення, що приймаються у моделях оцінки надійності програмних засобів щодо можливості внесення нових (вторинних) дефектів у процесі усунення виявлених раніше дефектів. Викладений порядок знаходження параметрів функції ризику для різних моделей. Характеризується можливість застосування моделей оцінки надійності програмних засобів з урахуванням вторинних дефектів. We analyze the assumptions made in models assessing the reliability of software tools for the introduction of new (secondary) defects in the process of removing previously identified defects. Outlined the procedure for finding the parameters of the function of risk for different models. Characterized by the use of models to assess the reliability of software in view of the secondary defects. |
|
| Date |
2013-07-14T16:50:45Z
2013-07-14T16:50:45Z 2010 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Учет вторичных дефектов в моделях надежности программных средств / О.Н. Одарущенко, А.А. Руденко, В.С. Харченко // Мат. машини і системи. — 2010. — № 1. — С. 205-217. — Бібліогр.: 16 назв. — рос.
1028-9763 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/47432 621.31 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Математичні машини і системи
|
|
| Publisher |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
|
|