Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов
|
|
| Creator |
Шевчик-Шекера, А.В.
|
|
| Subject |
Новые компоненты для электронной аппаратуры
|
|
| Description |
Показано, что при расчете предельных параметров NEP приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов, ограниченных флуктуациями потоков фонового излучения, необходимо учитывать фактор группировки фотонов при их излучении нагретыми телами и влияние дифракции, вносимой антенной при введении излучения в ПИ.
Показано, що при розрахунку параметра NEP приймачів випромінювання ТГц/суб-ТГц-діапазонів необхідно враховувати флуктуації потоків фонового випромінювання для різних температур фону в разі дифракційно-обмежених пучків. It is shown that while calculating the NEP parameter of radiation detectors of THz/sub-THz range, the fluctuations of the background radiation flux at different temperatures of the background in the case of diffraction-limited beam should be taken into account. |
|
| Date |
2013-12-05T19:37:23Z
2013-12-05T19:37:23Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Реальная и предельная чувствительность некоторых приемников излучения ТГц/суб-ТГц-диапазонов / А.В. Шевчик-Шекера // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 1. — С. 3-6. — Бібліогр.: 18 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51640 621.383 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|