Метод оценки качества тонкопленочной платы
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Метод оценки качества тонкопленочной платы
|
|
| Creator |
Спирин, В.Г.
|
|
| Subject |
Технологические процессы и оборудование
|
|
| Description |
Разработан метод оценки качества тонкопленочной платы, который основан на результатах измерения сопротивления резисторов и вычисления их инструментальных погрешностей. Применение данного метода позволяет увеличить выход годных плат в 1,5—2 раза.
Розроблено метод оцінки якості тонкоплівкової плати, який заснований на результатах вимірювання опору резисторів і обчислення їх інструментальних похибок. Дано рекомендації по виключенню грубих промахів при застосуванні методу. Проведена практична оцінка показує високу ефективність розроблених алгоритмів. Застосування даного методу дозволяє збільшити вихід придатних плат в 1,5 —2 рази. A method for estimation of the quality of a thin-film board has been developed, based on the results of resistance measuring and instrumental errors calculation. Recommendations are given for the exclusion of gross errors in the application of the method. The practical estimation carried out shows the high efficiency of the developed algorithms. This method allows to increase the boards yield by 1,5 — 2 times. |
|
| Date |
2013-12-06T17:28:29Z
2013-12-06T17:28:29Z 2012 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Метод оценки качества тонкопленочной платы / В.Г. Спирин // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2012. — № 3. — С. 31-34. — Бібліогр.: 6 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51680 621.3.049.776 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|