Запис Детальніше

Исследование процесса формирования токовых характеристик кремниевого фотодиода с выпрямляющими барьерами

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Исследование процесса формирования токовых характеристик кремниевого фотодиода с выпрямляющими барьерами
 
Creator Каримов, А.В.
Ёдгорова, Д.М.
Гиясова, Ф.А.
Мирджалилова, М.А.
Асанова, Г.О.
Абдулхаев, О.А.
Мухутдинов, Ж.Ф.
 
Subject Функциональная микро- и наноэлектроника
 
Description Приведены результаты исследований двухбарьерной фотодиодной кремниевой структуры с встречновключенными выпрямляющими переходами «металл полупроводник» в фотодиодном и фотовольтаическом режимах включения. Такие структуры представляют интерес для создания устройств приема слабых оптических сигналов.
Наведено результати досліджень двобарьерної фотодіодної кремнієвої структури з зустрічноввімкненими випрямляючими переходами «метал — напівпровідник» у фотодіодному та фотовольтаїчному режимах включення. Такі структури становлять інтерес для створення пристроїв прийому слабких оптичних сигналів.
The article presents the results of studies on silicon photodiode double-barrier structure with back-to-back rectifying junctions "metal—semiconductor" in the photodiode and photovoltaic modes. Such structures are of interest for the development of input devices for weak optical signals.
 
Date 2013-12-07T20:20:26Z
2013-12-07T20:20:26Z
2013
 
Type Article
 
Identifier Исследование процесса формирования токовых характеристик кремниевого фотодиода с выпрямляющими барьерами / А.В. Каримов, Д.М. Ёдгорова, Ф.А. Гиясова, М.А. Мирджалилова, Г.О. Асанова, О.А. Абдулхаев, Ж.Ф. Мухутдинов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2013. — № 1. — С. 9-12. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
2225-5818
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51735
621.383.52;535.243
 
Language ru
 
Relation Технология и конструирование в электронной аппаратуре
 
Publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України