Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок
|
|
| Creator |
Душкин, С.А.
Иванский, В.Б. Куров, А.М. Одинец, В.А. Оробинский, А.Н. |
|
| Subject |
Метрология. Стандартизация
|
|
| Description |
Рассчитаны погрешности при измерении средней энергии, коэффициента гомогенности, первого и второго слоя половинного ослабления рентгеновских установок. Проведено сравнение погрешностей с требованиями стандартов.
Наведено вирази для розрахунку похибок при вимірюванні характеристик рентгенівських установок: середньої енергії, коефіцієнта гомогенності, першого та другого шару половинного послаблення (ШПО1, ШПО2). Проведено порівняння похибок при вимірюванні та розрахунку характеристик рентгенівської установки з вимогами до похибок характеристик стандартного рентгенівського випромінювання з вузьким спектром згідно ДСТУ ISО 4037-1:2006. Визначено критерії вибору товщини додаткових фільтрів для вимірювання ШПП1 та ШПП2. Уточнено похибки при розрахунку середньої енергії рентгенівського випромінювання та коефіцієнта гомогенності. Expressions for calculating the measurement errors of Xray devices features are given as follows: mean photon energy, homogeneity coefficient, the first and the second half-value layer (1st HVL, 2nd HVL). Comparison of errors is organized at measurement and calculation of features of X-ray installation with requirements to errors of standard X-ray radiation features with narrow spectrum on DSTU ISO 4037-1:2006. Criteria of choùûøòï the additional filters thickness for measurement 1st HVL and 2nd HVL are defined. The errors resulting from calculation of mean photon energy of X-ray radiation and homogeneity coefficient are specified. |
|
| Date |
2013-12-11T19:29:26Z
2013-12-11T19:29:26Z 2011 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Погрешности при измерении характеристик рентгеновских установок / С.А. Душкин, В.Б. Иванский, А.М. Куров, В.А. Одинец, А.Н. Оробинский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2011. — № 3. — С. 44-49. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51824 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|