Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности
|
|
| Creator |
Иванченко, И.А.
Сантоний, В.И. Смынтына, В.А. |
|
| Subject |
Электронные средства: исследования, разработки
|
|
| Description |
Применение в отражательной фотометрии многоэлементного фотоприемника позволило увеличить точность и упростить измерение спектрального коэффициента направленного отражения поверхности.
Встановлено звязок між коефіцієнтом відбиття поверхніта координатою зображення у площині фотоприймача. Розроблено цифровий метод вимірювання коефіцієнту відбиття з використанням багатоелементного фотоприймача, що дозволяє збільшити точність вимірювань додесятих часток відсотка. The connection between the reflectance of a surface and the coordinate of picture in a photodetector plane is established. The digital method of measurement of reflectance with application of the multielement photodetector is developed. This method allows to increase accuracy of measurements to the tenth shares of percent. |
|
| Date |
2013-12-20T20:45:15Z
2013-12-20T20:45:15Z 2010 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Цифровой метод измерения коэффициента направленного отражения поверхности / И.А. Иванченко, В.И. Сантоний, В.А. Смынтына // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 3. — С. 16-20. — Бібліогр.: 11 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51948 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|