Запис Детальніше

Методика диагностики электронных пучков среднего уровня мощности по переходному излучению

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Методика диагностики электронных пучков среднего уровня мощности по переходному излучению
 
Creator Воробьев, Г.С.
Дрозденко, А.А.
Шульга, Ю.В.
Барсук, И.В.
 
Subject Электронные средства: исследования, разработки
 
Description Обобщена методика диагностики ленточных и аксиально-симметричных электронных пучков по переходному излучению, возникающему при падении электронов на металлическую мишень. Проанализированы характеристики трех типов приемников излучения.
Описано загальну методику діагностики за перехідним випроміненням стрічкових та аксіально-симетричних електронних пучків малого перерізу (0,1 мм) середнього рівня потужності. Вперше проведено порівняльний аналіз різних типів приймачів перехідного випромінення: фотокамери, відеокамери та цифрофої фотокамери. Вказано переваги та недоліки кожного з приймачів випромінення, які необхідно враховувати під час аналізу конкретного обўєкту досліджень згідно з поставленим завданням.
The general method of diagnostics of transient radiation of ribbon-shaped and axially-symmetric electron beams of small section and high power density is described. A comparative analysis of different types of receivers of a transient radiation is carried out for the first time. Advantages and disadvantages of each of receivers of radiation, which must be taken into account at the analysis of concrete object of researches, are indicated.
 
Date 2013-12-22T00:24:35Z
2013-12-22T00:24:35Z
2010
 
Type Article
 
Identifier Методика диагностики электронных пучков среднего уровня мощности по переходному излучению / Г.С. Воробьев, А.А. Дрозденко, Ю.В. Шульга, И.В. Барсук // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2010. — № 5-6. — С. 7-10. — Бібліогр.: 9 назв. — рос.
2225-5818
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/51976
 
Language ru
 
Relation Технология и конструирование в электронной аппаратуре
 
Publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України