Запис Детальніше

Прогнозирование показателей надежности двухкаскадного термоэлектрического охлаждающего устройства в режиме Q0max

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Прогнозирование показателей надежности двухкаскадного термоэлектрического охлаждающего устройства в режиме Q0max
 
Creator Зайков, В.П.
Киншова, Л.А.
Казанжи, Л.Д.
Храмова, Л.Ф.
 
Subject Обеспечение тепловых режимов
 
Description Получены соотношения для оценки показателей надежности двухкаскадных ТЭУ различной конструкции в зависимости от их основных значимых параметров в режиме Q0max.
Отримано співвідношення для оцінки показників надійності двохкаскадних ТЕП різної конструкції залежно від їх основних значущих параметрів в режимі Q0max.·Наведено результати розрахунків для перепадів температури ΔТ=60, 70, 80 К з урахуванням теплового навантаження і температурної залежності параметрів, а також в режимі теплового насоса (при ΔТ=0). Проведено оцінку максимальної холодопродуктивності двохкаскадних ТЕП різної конструкції для різних умов експлуатації.
The parities for an estimation of parameters of reliability two-cascade TED of a various design depending on their basic parameters in a mode Q0max are received. The results of accounts for differences of temperature ΔT=60, 70, 80 K in view of thermal loading and temperature dependence of parameters, and also in a mode of the thermal pump (at ΔT=0) are given. The estimation maximal coldproductivity two-cascade TED of a various design for various conditions of operation is carried out.
 
Date 2013-12-29T17:21:41Z
2013-12-29T17:21:41Z
2009
 
Type Article
 
Identifier Прогнозирование показателей надежности двухкаскадного термоэлектрического охлаждающего устройства в режиме Q0max / В.П. Зайков, Л.А. Киншова, Л.Д. Казанжи, Л.Ф. Храмова // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2009. — № 5. — С. 34-37. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
2225-5818
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52312
 
Language ru
 
Relation Технология и конструирование в электронной аппаратуре
 
Publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України