Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем
|
|
| Creator |
Мокрицкий, В.А.
Банзак, О.В. Волосевич, В.П. |
|
| Subject |
Электронные средства: исследования, разработки
|
|
| Description |
Обнаружена стойкость основных пара-метров микросборок, предназначенных для измерения и стабилизации температуры первичных преобразователей неэлектрических величин, к воздействию быстрыми электронами и нейтронами. Показаны причины изменений некоторых параметров.
|
|
| Date |
2014-01-01T21:15:34Z
2014-01-01T21:15:34Z 2008 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Исследование радиационной стойкости гибридных интегральных микросхем / В.А. Мокрицкий, О.В. Банзак, В.П. Волосевич // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2008. — № 4. — С. 14-15. — Бібліогр.: 3 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/52439 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|