Закономерности деградации светоизлучающих диодов
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Закономерности деградации светоизлучающих диодов
|
|
| Creator |
Викулин, И.М.
Ирха, В.И. Коробицын, Б.В. Горбачев, В.Э. |
|
| Subject |
Контроль. Качество. Надежность
|
|
| Description |
Предложен метод тестирования фосфид-галлиевых светоизлучающих диодов на величину срока службы, значительно сокращающий время отбраковки ненадежных СИД в производстве.
|
|
| Date |
2014-01-27T18:27:29Z
2014-01-27T18:27:29Z 2004 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Закономерности деградации светоизлучающих диодов / И.М. Викулин, В.И. Ирха, Б.В. Коробицын, В.Э. Горбачев // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 2. — С. 55-56. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/53801 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|