Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов
|
|
| Creator |
Павлюк, С.П.
Ищук, Л.В. Кислицын, В.М. |
|
| Subject |
Интегральные схемы и полупроводниковые приборы
|
|
| Description |
Для диагностики качества полупроводниковых диодов, изготавливаемых методом сварко-пайки, предлагается использовать изображение излучения кристалла.
|
|
| Date |
2014-02-01T22:20:39Z
2014-02-01T22:20:39Z 2004 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Экспресс-метод контроля качества полупроводниковых диодных кристаллов / С.П. Павлюк, Л.В. Ищук, В.М. Кислицын // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2004. — № 3. — С. 62-64. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
2225-5818 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/54435 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Технология и конструирование в электронной аппаратуре
|
|
| Publisher |
Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України
|
|