Запис Детальніше

Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени
 
Creator Кутаев, Ю.Ф.
Тимченко, Л.И.
Губернаторов, В.А.
Кокряцкая, Н.И.
 
Subject Алгоритмическое и программное обеспечение параллельных вычислительных интеллектуальных систем
 
Description В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений.
У статті розглядається проблема контролю форми поверхні плями випромінювання у реальному часі. Пропонується використання методу перетинів для формування вибірки і подальшої обробки подальших зображень.
In the article the problem of control of form of surface of spot of radiation is examined in real time. The use of method of sections is offered for forming of selection and subsequent processing of further images.
 
Date 2014-02-12T23:52:20Z
2014-02-12T23:52:20Z
2010
 
Type Article
 
Identifier Название / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, В.А. Губернаторов, Н.И. Кокряцкая // Штучний інтелект. — 2010. — № 3. — С. 81-87. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
1561-5359
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/56161
681.78
 
Language ru
 
Relation Штучний інтелект
 
Publisher Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України