Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів ІнформаціяПоле | Співвідношення | |
Title |
Применение метода сечений для контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени
|
|
Creator |
Кутаев, Ю.Ф.
Тимченко, Л.И. Губернаторов, В.А. Кокряцкая, Н.И. |
|
Subject |
Алгоритмическое и программное обеспечение параллельных вычислительных интеллектуальных систем
|
|
Description |
В статье рассматривается проблема контроля формы поверхности пятна излучения в реальном времени. Предлагается использование метода сечений для формирования выборки и последующей обработки дальнейших изображений.
У статті розглядається проблема контролю форми поверхні плями випромінювання у реальному часі. Пропонується використання методу перетинів для формування вибірки і подальшої обробки подальших зображень. In the article the problem of control of form of surface of spot of radiation is examined in real time. The use of method of sections is offered for forming of selection and subsequent processing of further images. |
|
Date |
2014-02-12T23:52:20Z
2014-02-12T23:52:20Z 2010 |
|
Type |
Article
|
|
Identifier |
Название / Ю.Ф. Кутаев, Л.И. Тимченко, В.А. Губернаторов, Н.И. Кокряцкая // Штучний інтелект. — 2010. — № 3. — С. 81-87. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
1561-5359 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/56161 681.78 |
|
Language |
ru
|
|
Relation |
Штучний інтелект
|
|
Publisher |
Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України
|
|