Запис Детальніше

Алгоритм поиска и классификации дефектов топологии печатных плат

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Алгоритм поиска и классификации дефектов топологии печатных плат
 
Creator Инютин, А.В.
 
Subject Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
 
Description В статье предлагается алгоритм контроля топологии печатных плат, который основан на декомпозиции
изображения печатной платы на элементарные фрагменты и проверке связей между теми элементами,
которые являются ключевыми для анализа формы дорожек. Особенностью алгоритма является большое
количество типов обнаруживаемых дефектов, классификация которых проводится одновременно с их поиском.
У статті пропонується алгоритм контролю топології друкованих плат, що ґрунтується на декомпозиції
зображення друкованої плати на елементарні фрагменти й перевірці зв’язків між тими елементами,
які є ключовими для аналізу форми доріжок. Особливістю алгоритму є велика кількість типів
дефектів, що виявляються, класифікація яких здійснюється одночасно з їх пошуком.
A hybrid algorithm for the PCB topology control and classification of defects are proposed. The algorithm is
based on the comparing of connection tables of etalon and tested PCBs. Connection table is produced by
partitioning the image of tracks into elementary fragments with skeleton transform. A peculiar feature of the
algorithm is a large number of types of defects that are detected during inspection (defects of the logical
structure, defects of the shape of elements, defects of the relative position) and good paralleling possibility.
 
Date 2014-04-10T14:31:37Z
2014-04-10T14:31:37Z
2011
 
Type Article
 
Identifier Алгоритм поиска и классификации дефектов топологии печатных плат / А.В. Инютин // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 228-237. — Бібліогр.: 31 назв. — рос.
1561-5359
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/59895
004.932
 
Language ru
 
Relation Штучний інтелект
 
Publisher Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України