Запис Детальніше

Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям
 
Creator Недзьведь, А.М.
Абламейко, С.В.
Недзьведь, О.В.
 
Subject Интеллектуальные интерфейсы и распознавание образов. Системы цифровой обработки изображений
 
Description В данной статье представлена схема алгоритма анализа наноповерхности по изображениям атомно-силовой
микроскопии. В основе анализа лежит коррекция неравномерного контраста и выделение объектов с округлой
формой. Данный алгоритм позволил определить не только классические характеристики описания наноповерхности, такие как шероховатость, но и дополнительные характеристики нанообъектов, позволяющие
получить как их индивидуальное, так и групповое описание.
У даній статті представлена схема алгоритму аналізу наноповерхності за зображеннями атомно-силової
мікроскопії. В основі аналізу лежить корекція нерівномірного контрасту і виділення об’єктів з округлою
формою. Даний алгоритм дозволив визначити не тільки класичні характеристики опису наноповерхності,
такі як шорсткість, але і додаткові характеристики нанооб’єктів, що дозволяють отримати як їх індивідуальний, так і груповий опис.
In this paper the scheme of algorithm of nano-surface image analysis of atomic force microscopy was
described. The analysis is based on correction of uneven contrast and object selection with a rounded shape.
This algorithm allowed us to determine not only the classical characteristics of nano-surface such as
roughness, but it included additional characteristics of several nano-objects.
 
Date 2014-04-10T14:43:01Z
2014-04-10T14:43:01Z
2011
 
Type Article
 
Identifier Анализ свойств наноповерхностей по ACM изображениям / А.М. Недзьведь, С.В. Абламейко, О.В. Недзьведь // Штучний інтелект. — 2011. — № 3. — С. 246-253. — Бібліогр.: 8 назв. — рос.
1561-5359
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/59897
004.93'1;004.932
 
Language ru
 
Relation Штучний інтелект
 
Publisher Інститут проблем штучного інтелекту МОН України та НАН України