Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Визначення характеристик шаруватої структури за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття матрицею розсіювання
|
|
| Creator |
Назарчук, З.Т.
Синявський, А.Т. |
|
| Subject |
Распространение, дифракция и рассеяние электромагнитных волн
|
|
| Description |
Подається метод визначення діелектричної проникності та товщини шарів плоскої шаруватої структури за результатами вимірювання коефіцієнта відбиття плоскої електромагнітної хвилі. В цьому методі використовується підхід до реконструкції частотної залежності всіх елементів матриці розсіювання в обмеженому діапазоні частот. Матриця розсіювання відновлюється через перерахунок виміряних коефіцієнтів відбиття від такої структури у вільному просторі та на ідеально провідній підкладці. Високої точності обчислення діелектричної проникності та товщини шарів досягнуто за рахунок ідентифікації спектральних коефіцієнтів, які виділено з елементів матриці розсіювання та описано скінченним рядом незгасаючих комплексних експонент. Представлен метод определения диэлектрических проницаемостей и толщин слоев плоской многослойной структуры исходя из результатов измерений коэффициента отражения плоской электромагнитной волны. В этом методе используется подход к реконструкции частотной зависимости всех элементов матрицы рассеяния в ограниченном диапазоне частот. Восстановление матрицы рассеяния осуществлено путем перерасчета измеренных коэффициентов отражения от такой структуры в свободном пространстве и на идеально проводящей подложке. Высокой точности определения диэлектрической проницаемости и толщины слоев удалось достичь за счет идентификации спектральных коэффициентов, которые выделены из элементов матрицы рассеяния и представлены в виде конечного ряда незатухающих комплексных экспонент. A new method for determination of both layers’ permittivity and thickness of a plain multilayer structure is proposed. The reflection coefficient of a plain electromagnetic wave is considered as initial data in the problem. The method is based on an approach to reconstruction of the frequency dependences of all scattering matrix elements in a limited waveband. The scattering matrix has been recovered by recalculation of the measured reflection coefficients for this structure in free space and on a perfectly-conducting screen. A high accuracy in both permittivity and thickness determination is achieved due to identification of spectral coefficients which are distinguished from scattering matrix elements and expressed as a finite series of undamped complex exponents. |
|
| Date |
2014-04-11T15:32:05Z
2014-04-11T15:32:05Z 2010 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Визначення характеристик шаруватої структури
за реконструйованою з коефіцієнтів відбиття
матрицею розсіювання / З.Т. Назарчук, А.Т. Синявський // Радиофизика и радиоастрономия. — 2010. — Т. 15, № 3. — С. 295–313. — Бібліогр.: 23 назв. — укр.
1027-9636 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/60106 537.874.4 |
|
| Language |
uk
|
|
| Relation |
Радиофизика и радиоастрономия
|
|
| Publisher |
Радіоастрономічний інститут НАН України
|
|