Запис Детальніше

Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения
 
Creator Белоус, А.И.
Емельянов, В.А.
Ефименко, С.А.
Прибыльский, А.В.
 
Subject Технология производства
 
Description Предложен новый способ отбраковки БИС на основе метода понижения напряжения питания: при понижении напряжения питания фиксируются два значения напряжения питания, при которых происходит несовпадение, соответственно, первого и заданного количества тестов функционального контроля с эталоном. Приведена блок-схема измерительного устройства, реализующего данный метод; на примере биполярных микросхем (ТТЛ, ЭСЛ, И²Л) показана физическая модель, поясняющая эффективность способа.
 
Date 2014-11-15T16:37:48Z
2014-11-15T16:37:48Z
2001
 
Type Article
 
Identifier Повышение достоверности отбраковки БИС методом понижения питающего напряжения / А.И. Белоус, В.А. Емельянов, С.А. Ефименко, А.В. Прибыльский // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. — 2001. — № 4-5. — С. 35-37. — Бібліогр.: 5 назв. — рос.
2225-5818
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/70874
621.382
 
Language ru
 
Relation Технология и конструирование в электронной аппаратуре
 
Publisher Інститут фізики напівпровідників імені В.Є. Лашкарьова НАН України