Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры поверхности
|
|
| Creator |
Грушко, В.
Новиков, Н. Чайка, А. Мицкевич, Е. Лысенко, О. |
|
| Description |
Представлена новая методика исследования атомарной структуры поверхности на основе методов сканирующей туннельной микроскопии (СТМ) и сканирующей туннельной спектроскопии (СТС) с алмазным зондом. В основу методики положена идея сравнения СТМ-изображения изучаемого участка поверхности и его СТС-изображения, полученного при малых туннельных напряжениях. Представленная методика может использоваться при нанотехнологических операциях атомарной сборки логических элементов квантовых компьютеров, элементов наноэлектроники, при создании и изучении однофотонных источников и др. Наведено нову методику дослідження атомарної структури поверхні на основі методів сканівної тунельної мікроскопії (СТМ) і сканівної тунельної спектроскопії (СТС) з діамантовим зондом. В основу методики покладено ідею порівняння СТМ-зображення досліджуваної ділянки поверхні з її СТС-зображенням, одержаним за малих тунельних напруг. Наведена методика може використовуватися при нанотехнологічних операціях атомарного складання логічних елементів квантових комп’ютерів, елементів наноелектроніки, при створенні й вивченні однофотонних джерел тощо. A new technique to study the atomic structure of the surface on the basis of scanning tunnelling microscopy (STM) and scanning tunnelling spectroscopy (STS) with a diamond tip is represented. The technique is based on the idea of comparing STM images of the studied surface area with its STS-image obtained at low tunnelling voltages. The presented method can be used for fabrication of logic elements of quantum computers and elements of nanoelectron- ics, for development and study of the single-photon sources as well as for other nanotechnological operations. |
|
| Date |
2015-02-06T14:17:14Z
2015-02-06T14:17:14Z 2014 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Новая СТМ/СТС-методика исследования атомарной структуры
поверхности / В. Грушко, Н. Новиков, А. Чайка, Е. Мицкевич, О. Лысенко // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології: Зб. наук. пр. — К.: РВВ ІМФ, 2014. — Т. 12, № 1. — С. 81-90. — Бібліогр.: 34 назв. — рос.
1816-5230 PACSnumbers:07.35.+k,07.79.-Cz,68.37.Ef,73.40.Gk,73.63.Rt,81.05.uj,81.07.Lk http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/75952 |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології
|
|
| Publisher |
Інститут металофізики ім. Г.В. Курдюмова НАН України
|
|