Запис Детальніше

Исследование радиационной стойкости детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe и CdZnTe

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Исследование радиационной стойкости детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe и CdZnTe
 
Creator Кутний, В.Е.
Рыбка, А.В.
Прохорец, И.М.
Давыдов, Л.Н.
Абызов, А.С.
Довбня, А.Н.
Карасев, С.П.
Уваров, В.Л.
Шляхов, И.Н.
 
Subject Облучательная техника, ядерно-физические методы исследования структуры и свойств твердых тел
 
Description В полупроводниковых детекторах ионизирующих излучений в процессе их эксплуатации создаются радиационные повреждения, которые ухудшают свойства приборов и могут вывести их из строя. В спектрометрах ухудшается энергетическое разрешение, увеличивается ток утечки, положение фотопика сдвигается в сторону меньших значений энергии. В дозиметрах деградируют их счетные характеристики. Основной целью настоящего исследования было определение радиационного ресурса дозиметрических детекторов из CdTe и CdZnTe. Для испытаний были отобраны детекторы из CdTe и CdZnTe, не обладавшие спектрометрическими свойствами и использовавшиеся в дозиметрическом режиме. Получены зависимости счетных характеристик детекторов от величины поглощенной дозы. В частности, обнаружено, что CdZnTe сохраняет чувствительность к регистрации гамма-излучения в счетном режиме до значения поглощенной дозы 75 Мрад, в то время как радиационная деградация детекторов из CdTe наблюдается при меньших дозах (20 Мрад).
 
Date 2015-03-12T19:23:17Z
2015-03-12T19:23:17Z
2000
 
Type Article
 
Identifier Исследование радиационной стойкости детекторов ионизирующих излучений на основе CdTe и CdZnTe / В.Е. Кутний, А.В. Рыбка, И.М. Прохорец, Л.Н. Давыдов, А.С. Абызов, А.Н. Довбня, С.П. Карасев, В.Л. Уваров, И.Н. Шляхов // Вопросы атомной науки и техники. — 2000. — № 4. — С. 212-214. — Бібліогр.: 10 назв. — рос.
1562-6016
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/78200
621.039.564
 
Language ru
 
Relation Вопросы атомной науки и техники
 
Publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України