Запис Детальніше

Количественное определение прочности сцепления тонких металлических пленок со стеклом

Vernadsky National Library of Ukraine

Переглянути архів Інформація
 
 
Поле Співвідношення
 
Title Количественное определение прочности сцепления тонких металлических пленок со стеклом
 
Creator Белоус, В.А.
Лунев, В.М.
Павлов, В.С.
Турчина, А.К.
 
Subject Диагностика и методы исследований
 
Description Описана методика количественного определения прочности сцепления тонких медных пленок с поверхностью стеклянных подложек методом царапания. Медные покрытия получались вакуумно-дуговым методом. Показано, что в интервале толщин пленок ~ 0,04…~ 0,2 мкм прочность сцепления составляет ~ 40 МПа. С дальнейшим увеличением толщины пленки прочность сцепления снижается и при ~ 1 мкм составляет ~ 2 МПа
Описано методику кількісного визначення міцності зчеплення тонких мідних плівок з поверхнею скляних підкладок
методом царапання. Мідні покриття виходили вакуумно-дуговим методом. Показано, що в інтервалі товщин плівок від
~ 0,04 до ~ 0,2 мкм міцність зчеплення становить ~ 40 МПа. З подальшим збільшенням товщини плівки міцність
зчеплення знижується й при ~ 1 мкм становить ~ 2 МПа.
The technique of quantitative definition of strenght of adhesion thin copper films with a surface of glass substrates by a
method of scrath is described. The copper coverings were deposited by a vacuum-arc method. It was shown, that in an interval of
films thickness from ~ 0,04 up to ~ 0,2 µm the strength of adhesion was ~ 40 МPа. With the further increase of thickness of thе
films up to ~ 1 µm the strength of adhesion reduced down to ~ 2 МPа.
 
Date 2015-04-16T05:30:39Z
2015-04-16T05:30:39Z
2006
 
Type Article
 
Identifier Количественное определение прочности сцепления тонких металлических пленок со стеклом / В.А. Белоус, В.М. Лунев, В.С. Павлов, А.К. Турчина // Вопросы атомной науки и техники. — 2006. — № 4. — С. 221-223. — Бібліогр.: 7 назв. — рос.
1562-6016
http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/80336
620.178.15:621.793
 
Language ru
 
Relation Вопросы атомной науки и техники
 
Publisher Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України