Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction
|
|
| Creator |
Shchagin, A.V.
|
|
| Subject |
Параметрическое излучение
|
|
| Description |
It is shown that the diffraction on a polycrystal can be used for investigation and diagnostics of X-ray radiation emitted in a forward direction by relativistic charged particles moving in crystalline or other targets or fields. Methods for measuring radiation spectral density, divergence, and linear polarization at any requisite energy from a few units to tens of keV are proposed. The explanation for the origination of experimentally observed and earlier unidentified spectral peaks as a result of Bragg diffraction on a polycrystal is proposed. The experiment for verification of the explanation is suggested. У роботі показано, що дифракція на полікристалі може бути використана для дослідження і діагностики рентгенівського випромінювання, що випускають у напрямку вперед релятивістські заряджені частки, що рухаються в кристалічних або інших мішенях і полях. Запропоновано методи для виміру спектральної густини, розбіжності і лінійної поляризації випромінювання при будь-якій бажаній енергії від декількох одиниць до десятків кілоелектронвольт. Запропоновано пояснення походження спектральних піків, що спостерігалися у експерименті і раніше не ідентифікованих, як результату дифракції Брегга на полікристалі. Пропонується експеримент для перевірки цього пояснення. В работе показано, что дифракция на поликристалле может быть использована для исследования и диагностики рентгеновского излучения, которое испускают в направлении вперед релятивистские заряженные частицы, движущиеся в кристаллических или других мишенях и полях. Предложены методы для измерения спектральной плотности, расходимости и линейной поляризации излучения при любой желаемой энергии от нескольких единиц до десятков килоэлектронвольт. Предложено объяснение происхождения наблюдавшихся в эксперименте и ранее не идентифицированных спектральных пиков как результата дифракции Брэгга на поликристалле. Предлагается эксперимент для проверки этого объяснения. |
|
| Date |
2015-04-18T04:35:52Z
2015-04-18T04:35:52Z 2004 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Diffraction on a polycrystal for investigations and diagnostics of X-ray radiation of relativistic particles in a forward direction / A.V. Shchagin // Вопросы атомной науки и техники. — 2004. — № 4. — С. 76-79. — Бібліогр.: 8 назв. — англ.
1562-6016 PACS: 41.50.+h; 41.60.-m; 07.85 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/80444 |
|
| Language |
en
|
|
| Relation |
Вопросы атомной науки и техники
|
|
| Publisher |
Національний науковий центр «Харківський фізико-технічний інститут» НАН України
|
|