Оценка ресурса изделий электронной техники
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Оценка ресурса изделий электронной техники
|
|
| Creator |
Стрельников, В.П.
|
|
| Subject |
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
|
|
| Description |
Представлены методики оценки средней наработки до отказа изделий электронной техники (MTTF) на основе использования -распределения для различных экспериментальных и справочных данных о надежности: интенсивности отказов, вероятности отказов, минимальной наработки, величины FIT. Отмечается, что прогнозные оценки MTTF на основе экспоненциального распределения завышены в 70-500 раз по сравнению с аналогичными оценками на основе DN-распределения.
Представлено методики оцінки середнього наробітку до відмови виробів електронної техніки (MTTF) на основі використання DN-розподілу для різних експериментальних та довідкових даних про надійність: інтенсивності відмов, імовірності відмов, мінімального наробітку, величини FIT. Відмічається, що прогнозовані оцінки MTTF на основі експоненціального розподілу завищені в 70-500 разів у порівнянні з аналогічними оцінками на підставі DN-розподілу. Methods of an estimation of an average operating time to failure of products of electronic techniques (MTTF) are submitted on the basis of use DN-distribution for the various experimental and help data on reliability: failure rate, probability of failures, the minimal operating time, size FIT. It is marked, that prognosticative estimations MTTF on a basis exponential distribution are overestimated in 70-500 times in comparison with similar estimations on the basis of DN-distribution. |
|
| Date |
2015-06-28T08:56:54Z
2015-06-28T08:56:54Z 2004 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Оценка ресурса изделий электронной техники / В.П. Стрельников // Мат. машини і системи. — 2004. — № 2. — С. 186-195. — Бібліогр.: 12 назв. — рос.
1028-9763 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/83899 621.192 (035) |
|
| Language |
ru
|
|
| Publisher |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
|
|