Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения
Vernadsky National Library of Ukraine
Переглянути архів Інформація| Поле | Співвідношення | |
| Title |
Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения
|
|
| Creator |
Федухин, А.В.
|
|
| Subject |
Якість, надійність і сертифікація обчислювальної техніки і програмного забезпечення
|
|
| Description |
Предлагается метод прогнозирования остаточного ресурса электронных устройств после длительного хранения на основе DN-распределения наработки до отказа.
Запропоновано метод прогнозування залишкового ресурсу електронних пристроїв після тривалого зберігання на основі DN-розподілу наробітку до відмови. It is offered the method of residual resource of electronic devices forecasting after long storage on the basis of DN-distribution of MTTF. |
|
| Date |
2015-06-28T15:01:02Z
2015-06-28T15:01:02Z 2004 |
|
| Type |
Article
|
|
| Identifier |
Прогнозирование надежности электронных устройств после длительного хранения / А.В. Федухин // Мат. машини і системи. — 2004. — № 4. — С. 164-170. — Бібліогр.: 2 назв. — рос.
1028-9763 http://dspace.nbuv.gov.ua/handle/123456789/83936 621.192 (035) |
|
| Language |
ru
|
|
| Relation |
Математичні машини і системи
|
|
| Publisher |
Інститут проблем математичних машин і систем НАН України
|
|